2026年光电检测、精密测量与信号处理国际会议

2026年光电检测、精密测量与信号处理国际会议（ODPMSP 2026）旨在汇聚全球光电检测、精密测量与信号处理领域的专家学者，聚焦高灵敏度光电探测、亚微米精密测量及智能信号处理等前沿议题。会议将探讨激光干涉测量、光谱检测、机器视觉测量及噪声抑制算法，推动光电技术与精密仪器深度融合，共筑高精度、高可靠、智能化的测量与信号处理新体系。

会议官网：www.confs-online.com/odpmsp

大会时间：2026-12-18

大会地点：柳州

截稿日期：2026-11-28

接受/拒稿通知：约投稿后1-2周

会议收录类型：EI; Scopus; IEEE Xplore

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高灵敏度光电探测器与传感技术

激光干涉与超精密测量方法

光谱检测与痕量分析技术

机器视觉测量与三维形貌重构

光学相干层析与生物医学检测

光纤传感与分布式测量系统

光电信号采集与低噪声放大

数字信号处理与滤波算法

微弱信号检测与锁定放大技术

光电测量中的误差补偿与校准

太赫兹检测与成像技术

红外与紫外光电检测系统

光栅与编码器精密位移测量

自适应信号处理与噪声抑制

光电图像处理与目标识别

多传感器融合测量方法

在线检测与工业质量控制

智能仪器仪表与嵌入式处理

量子增强精密测量技术

光学频率梳与精密计量

光电检测中的深度学习应用

无损检测与结构健康监测

高速数据采集与实时处理

光电测量系统集成与标定

精密测量标准与计量溯源